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紅外線氣體分析儀原理作原理

紅外線氣體分析儀，是利用紅外線行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

1．比爾定律

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為個無限薄的平面．強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為： (比爾定律)

式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強度；

--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度；

k--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)；

C--待分析組分的氣體濃度；

L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)

對于臺制好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k定；紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度定；氣室長度L定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了

作原理

該儀器屬于不分光式紅外線氣體分析器，其作原理是基于某些氣體對紅外線的選擇性吸收。儀器采用單光源、單管隔半氣室及的檢測器，、分析度、穩(wěn)定性好。采用的數(shù)字處理術(shù)